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產品詳細頁
M-Z光學干涉儀

M-Z光學干涉儀

  • 產品型號:
  • 更新時間:2023-03-14
  • 產品介紹:M-Z光學干涉儀通過比較被測物和參考物的相位(表現為條紋的變化),從而實現被測物的物理量的測量。
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產品介紹

M-Z光學干涉儀產品說明:

馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過比較被測物和參考物的相位(表現為條紋的變化),從而實現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質折射率的微小變化,可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導等方面的研究。

M-Z光學干涉儀技術參數:

參數

大值

小值

備注

視場

Φ500mm

Φ50mm

干涉條紋間距

無窮大

0.1mm

圖像分析軟件

滿足干涉條紋背景濾波、二值化、細化與修像、標記、采樣讀數、物理參數計算讀取等功能

成像傳感器

數碼單反相機、高速相機、記錄干板

光源

532nm激光光源、632.8nm激光光源

其他

系統采用有效的減振方式



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